產(chǎn)品詳情
可對應(yīng)300mm硅片的內(nèi)部、表面、背面的缺陷檢測。
【正面·背面檢測】:當線性光照射硅片時,正反射光與入射角相同的角度反射。如果硅片表面凹凸不平,光就會散射并出現(xiàn)多個角度的反射光。通過接收向上的散射光來檢測硅片上的凹凸缺陷。
【內(nèi)部檢測】:當線性光照射硅片時,會穿透硅片。如果硅片內(nèi)部有PIN HOLE則會減少透光量。通過測量透光量來檢測硅片內(nèi)部的缺陷。
【缺陷種類】:Scratch ,Pin mark ,Halo ,wire mark, crack, Susceptor Scrach ,saw mark , Crow ※針對部分缺陷進行OK/NG判定
【生產(chǎn)能力】:根據(jù)晶圓種類不同每片檢測最快只需 6S(不包含移動時間)
【菜單功能】:可編輯檢測菜單,并進行參數(shù)保存與導(dǎo)出。
【檢測對象】:8~12寸 拋光片
【檢測范圍】:表面、背面、內(nèi)部缺陷