德國賽普SEQUIP粒徑測試儀測量過程中斷維修經(jīng)驗豐富

德國賽普SEQUIP粒徑測試儀測量過程中斷維修經(jīng)驗豐富通過授權(quán)電子設(shè)計團隊盡早分析熱問題并共享熱分析的所，CelsiusThermalSolver減少了設(shè)計重新設(shè)計的時間，并使傳統(tǒng)解決方案無法提供新的分析和設(shè)計見解。此外，攝氏溫度求解器可以模擬大型系統(tǒng)，具有針對任何目標物體的詳細粒度，并且是個能夠?qū)Y(jié)構(gòu)如IC及其功率分布以及結(jié)構(gòu)如機箱一樣進行建模的解決方案。攝氏溫度求解器支持Cadence的InbligentSystemDesign?策略，可實現(xiàn)系統(tǒng)。它基于矩陣求解器技術(shù)構(gòu)建而成，該技術(shù)已在宣布的Clarity3D解算器和VoltusIC電源完整性解決方案中得到了生產(chǎn)證明。CelsiusThermalSolver的大規(guī)模并行體系結(jié)構(gòu)針對云環(huán)境進行了優(yōu)化。

德國賽普SEQUIP粒徑測試儀測量過程中斷維修經(jīng)驗豐富
一、開路測量

   開路測量時，測量狀態(tài)顯示和電解狀態(tài)顯示將顯示。 LED數(shù)碼管顯示計數(shù)陽室電解液產(chǎn)生過量的碘，顏色變深。此時應檢查以下情況：
   1、測量插頭、插座是否接觸良好。
   2、測量電引線是否開路，插頭是否焊接良好。

  二、 開電解
   當電解開時，測量狀態(tài)指示燈有指示，電解狀態(tài)指示燈只亮2個綠燈，“LED”數(shù)碼管顯示不計數(shù)。此時應檢查以下情況：
   1、電解插頭、插座是否接觸良好。
   2、陰室上電解引線是否斷路，插頭是否焊接良好（重新焊接插頭時應注意確保正負性不要焊錯）。
   3、陰陽鉑絲焊點是否開路。
實驗和數(shù)值(有限元分析)固有頻率不匹配的原因有很多，一個重要的問題是，實驗條件和有限元分析(FEA)之間的邊界條件可能有所不同，通常很難在實驗測試(透射率測試或模態(tài)測試)中復制與構(gòu)造有限元模型(FEM)時使用的相同邊界條件。 進行第四實驗以查看頂蓋振動，后兩個實驗與PCB振動有關(guān)，58表18.正弦波掃描測試配置摘要實驗編號測試項目和加速度計配正弦波掃描測試配置摘要實驗編號測試項目和加速度計配置Accelerometer4zAccelerometer-15zAccelerometer-1&2*6zyx*加速度計1位于組件上。

   三、測量短路
   當測量短路時，測量和電解狀態(tài)顯示無指示，LED數(shù)碼管顯示不計數(shù)。此時應檢查以下情況：
   1、測量插頭或插座是否短路。
   2、測量電的兩個球端是否碰在一起或內(nèi)部是否有短路。
   3、測量電是否漏電。漏液時雖然儀器電解時間超過半小時以上，但無法達到終點（這不是電解液的問題，應更換測量電）。
   4、儀器如有其他故障，請與凌科自動化聯(lián)系。
如果項目需要，可以選擇其他項目，確定所有項目后，按OK生成NC鉆削文件，該文件將保存在包含ProjectFile的文件夾下的子文件夾的默認路徑中，如何通過CadenceAllegro(OrCAD)生成NC鉆孔文件。 如果您告訴您的合同制造商[好的，我們希望增加或減少生產(chǎn)"，它可以評估它是否可以滿足需求，同樣，如果您打算進行后一次購買，，，，則需要確保ECM可以與您進行這項大筆，在將舊產(chǎn)品換為新產(chǎn)品時，您將需要受到保護。 在2005年，Cullen[7]報告說，典型的MFG環(huán)境測試不會在無鉛PCB上產(chǎn)生蠕變腐蝕，Mazurkiewicz[8]早報道了計算機硬件中PCB的蠕變腐蝕[8]，他在2006年報告說，由于符合RoHS要求。 這些設(shè)計使用鉆孔來分離儀器維修，為了節(jié)省布線費用，他們愿意在需要時用手將儀器維修分開，這取決于您如何珍惜自己的時間，以及終產(chǎn)品的外觀是否具有吸引力，在按生產(chǎn)數(shù)量進行面板化時，經(jīng)常會要求我們提供面板化或粘貼文件。

所產(chǎn)生的熱量無法在基板材料的表面上適當散發(fā)。這將導致熱流失，可能會導致板上關(guān)鍵組件發(fā)生災難性故障。污染–當發(fā)生污染導致電氣連接不應該存在的情況下。即短路故障，其中污染物（通常是水）充當通向電流的橋梁，電流會損壞電路中的其他組件。在許多情況下，當我們在工作單上引用此類故障時，維護人員將想知道如何防止此類故障。主要問題是……如何在不損壞電子產(chǎn)品的情況下清除電子產(chǎn)品中的污染物物理清除雜物我們在服務(wù)中心看到的常見的碎片是灰塵。這樣做的原因是簡單的。任何高壓電路的陽都將充當空氣中微粒的吸引劑，并自然地吸引灰塵。帶正電的電子將吸引帶負電的浮動顆粒，導致碎屑堆積在存在的任何帶電表面上。這在存在大量電壓的老式CRT（陰射線管）屏幕中尤為普遍。

如果將其選擇為以下步驟(6.step，7.step等)，否則該步驟可能會失敗，但是一般的程序是，至少建議步測試必須沒有失敗地完成，因此，第5步測試持續(xù)時間為66分鐘40秒，當檢測到10.故障時，在第9步的43.6分鐘處停止SST。 這使得測試對于工業(yè)采用是不切實際的，在這項研究中，采用以下方法，先，確定關(guān)鍵的相對濕度范圍和溫度條件，然后，為ECM評估中的灰塵選擇這些環(huán)境參數(shù)的適當組合，因此，路徑形成步驟被縮短，并在五天內(nèi)成功再現(xiàn)了ECM或腐蝕故障。 您可能會注意到設(shè)備位于電阻上方，該設(shè)備標題是組件所在的庫的名稱，這是一個通用且有用的庫，使用KiCAD設(shè)計PCB|手推車7.雙擊它，這將關(guān)閉[選擇組件"窗口，通過單擊所需的位置將組件放置在原理圖表中，8.單擊放大鏡圖標以放大該組件。 郵政信箱524，南非奧克蘭公園16板互連，今天，印刷儀器維修的基本功能是相同的，互連的銅信號線將來自兩個不同組件的兩條I/O引線連接在一起，組件可以是電阻器，電感器，電容器或半導體芯片，當應用多芯片技術(shù)時。

我們進行的測試循環(huán)顯示，curamik?氮化硅襯底比通常用于汽車領(lǐng)域的襯底（是HEV/EV）提高了10倍以上。根據(jù)這些數(shù)據(jù)，我們可以預期使用這些基板的模塊的使用壽命更長?！盡anfred報告關(guān)于curamik的新型陶瓷基板迄今為止，功率模塊中使用的銅鍵合陶瓷基板的可靠性一直受到陶瓷較低的抗彎強度的限制，因為撓曲強度會降低熱循環(huán)電阻。對于混合了熱和機械應力的端應用，例如混合動力和電動汽車（HEV/EV），當前常用的陶瓷基板并不是佳的?；澹ㄌ沾桑┖蛯w（銅）的熱膨脹系數(shù)的顯著差異在熱循環(huán)過程中將應力施加在接合區(qū)域上，從而威脅了可靠性。羅杰斯公司（RogersCorporation）推出了一種新的氮化硅（Si3N4）其curamik?陶瓷基材品牌下的陶瓷基材。

德國賽普SEQUIP粒徑測試儀測量過程中斷維修經(jīng)驗豐富圖5.集成的44翅片鋁散熱器的壓降特性。散熱器的壓降與流量的關(guān)系（圖5）顯示了仿真和實驗之間的總體一致，盡管這次CFD程序?qū)?shù)據(jù)進行了過度預測。除了來自模擬的壓降數(shù)據(jù)外，還尋求另一種數(shù)值方法[5]。作為后的檢查，基于Ellison[6,7]的方法對相同的散熱器幾何形狀進行了進一步分析。組合公式用于進入多孔板或開槽板的流量，通過卡通道阻力的流量以及突然膨脹的公式，得出以下估計的壓力/流量方程，如圖5所示：R（in.H2O）=0.000278xCFM2（2）基于以上對實驗數(shù)據(jù)的分析，包括數(shù)值模擬和分析預測，似乎對壓降數(shù)據(jù)普遍認同。散熱器設(shè)計結(jié)論上面對外殼溫度上升與氣流速率的關(guān)系分析表明，對于一個44片鋁散熱片。  kjbaeedfwerfws