產(chǎn)品詳情
Keithley 6430 電流靜電計(jì) 供應(yīng)
回收工廠或個(gè)人、庫(kù)存閑置、二手儀器及附件。
長(zhǎng)期 銷(xiāo)售、維修、回收 高頻 二手儀器。
溫馨提示：如果您找不到聯(lián)系方式，請(qǐng)?jiān)跒g覽器上搜索一下，旺貿(mào)通儀器儀
Keithley 6430 Keithley 6430
Keithley 6500、6430 系列高電阻/低電流靜電計(jì)
從三個(gè)敏感選項(xiàng)中選擇，實(shí)現(xiàn) 的高阻抗和低電流測(cè)量。5? 位 6514 型和 6517B 型靜電計(jì)提供 1fA 靈敏度，輸入阻抗 >200TΩ 的電壓測(cè)量，以及低至 10fC 的電荷測(cè)量。6? 位 6430 型亞 fA 遠(yuǎn)程 SourceMeter SMU 儀器能夠以 1aA 的靈敏度測(cè)量電流。其噪聲低、偏差小，非常適用于研究單電子器件、高電阻納米線和納米管、聚合物以及電化學(xué)應(yīng)用。
特點(diǎn)
優(yōu)勢(shì)
超低噪聲（6430 為 0.4fA p-p ，6517B 和 6514 <1fA） 確保對(duì)設(shè)備和材料研究中常見(jiàn)的超低電流實(shí)現(xiàn)更 的測(cè)量。
高達(dá) 10 16 ? 的電阻測(cè)量 (6517B) 測(cè)量超高電阻材料和絕緣體。
遠(yuǎn)程預(yù)放大器可以位于信號(hào)源 (6430) 允許直接或短暫連接到信號(hào)源，較大限度地減少電纜噪聲等噪聲源。
低輸入端壓降 消除影響低電流測(cè)量精度的誤差。
內(nèi)置 ±1kV 電壓源，提供掃描功能 (6517B) 簡(jiǎn)化了執(zhí)行泄漏、擊穿和電阻測(cè)試，以及對(duì)高電阻率材料執(zhí)行體積 (?-cm) 和表面電阻率 (?/square) 測(cè)量的過(guò)程。
適用于測(cè)量試樣材料的體積和表面電阻的選配 8009 型電阻率測(cè)試盒 (6517B) 防止您 觸潛在危險(xiǎn)電壓 — 打開(kāi)測(cè)試盒蓋子時(shí)自動(dòng)關(guān)閉儀器的電壓源。
即使在低電平信號(hào)上也能實(shí)現(xiàn)高測(cè)量速度 支持更快的低電平元器件測(cè)試。
可編程數(shù)字 I/O 和內(nèi)置接口
歐陽(yáng)R:135
3722
9325
回收工廠或個(gè)人、庫(kù)存閑置、二手儀器及附件。
長(zhǎng)期 銷(xiāo)售、維修、回收 高頻 二手儀器。
溫馨提示：如果您找不到聯(lián)系方式，請(qǐng)?jiān)跒g覽器上搜索一下，旺貿(mào)通儀器儀
Keithley 6430 Keithley 6430
Keithley 6500、6430 系列高電阻/低電流靜電計(jì)
從三個(gè)敏感選項(xiàng)中選擇，實(shí)現(xiàn) 的高阻抗和低電流測(cè)量。5? 位 6514 型和 6517B 型靜電計(jì)提供 1fA 靈敏度，輸入阻抗 >200TΩ 的電壓測(cè)量，以及低至 10fC 的電荷測(cè)量。6? 位 6430 型亞 fA 遠(yuǎn)程 SourceMeter SMU 儀器能夠以 1aA 的靈敏度測(cè)量電流。其噪聲低、偏差小，非常適用于研究單電子器件、高電阻納米線和納米管、聚合物以及電化學(xué)應(yīng)用。
特點(diǎn)
優(yōu)勢(shì)
超低噪聲（6430 為 0.4fA p-p ，6517B 和 6514 <1fA） 確保對(duì)設(shè)備和材料研究中常見(jiàn)的超低電流實(shí)現(xiàn)更 的測(cè)量。
高達(dá) 10 16 ? 的電阻測(cè)量 (6517B) 測(cè)量超高電阻材料和絕緣體。
遠(yuǎn)程預(yù)放大器可以位于信號(hào)源 (6430) 允許直接或短暫連接到信號(hào)源，較大限度地減少電纜噪聲等噪聲源。
低輸入端壓降 消除影響低電流測(cè)量精度的誤差。
內(nèi)置 ±1kV 電壓源，提供掃描功能 (6517B) 簡(jiǎn)化了執(zhí)行泄漏、擊穿和電阻測(cè)試，以及對(duì)高電阻率材料執(zhí)行體積 (?-cm) 和表面電阻率 (?/square) 測(cè)量的過(guò)程。
適用于測(cè)量試樣材料的體積和表面電阻的選配 8009 型電阻率測(cè)試盒 (6517B) 防止您 觸潛在危險(xiǎn)電壓 — 打開(kāi)測(cè)試盒蓋子時(shí)自動(dòng)關(guān)閉儀器的電壓源。
即使在低電平信號(hào)上也能實(shí)現(xiàn)高測(cè)量速度 支持更快的低電平元器件測(cè)試。
可編程數(shù)字 I/O 和內(nèi)置接口
