產(chǎn)品詳情
使用面型高低溫試驗箱尺寸135-3257-1289 董S 技術(shù)參數(shù)：
1、溫度范圍：(0℃、-20℃、-40℃、-70℃)～+150℃
2、濕度范圍：20～98%RH
3、溫度均勻度≤±2.0℃
4、溫度波動度≤±0.5℃
5、濕度波動:+2-3%RH
6、降溫速率：0.7℃～1℃(空載狀態(tài)下)
7、升溫速率：1～3℃(空載狀態(tài)下)
使用面型高低溫試驗箱尺寸 溫濕度范圍：
降壓時間:≤45min(常壓～0.5kPa)
降溫速率:0.7～1.0℃/min
溫度均勻度:±2℃(常壓，空載)
溫度波動度:±0.5℃(常壓，空載)
壓力偏差:常壓～40Kp：±1.8Kpa;40Kp～4Kpa：±4.5%;4Kp～0.5KPa：±0.1Kpa
溫度范圍:A:-20℃～150℃B:-40℃～150℃C:-60℃～150℃D:-70℃～150℃
溫度偏差:±3℃(常壓，空載)
升溫速率:1.0～3.0℃/min
壓力范圍:常壓～0.5kPa
《 所發(fā)布的各款試驗設(shè)備 價錢 僅為象征性的展示,不能作為實際價,實際 價錢 以艾思荔業(yè)務(wù)員根據(jù)客戶的要求所做的報價單為準(zhǔn) 》
使用面型高低溫試驗箱尺寸 標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T2423.2-2001試驗B：高溫試驗方法
GB11158-2006高溫試驗箱技術(shù)條件
GB10592-2006技術(shù)條件
GB/T2423.3-1993試驗Ca:恒定濕熱試驗
GB10589-2006低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備
GB/T2423.1-2001試驗A：低溫試驗方法
GB/T5170.5-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗設(shè)備
GB10586-2006濕熱試驗箱技術(shù)條件
艾思荔使用面型高低溫試驗箱尺寸 qq:2850687972 又名電路板高低溫老化箱，適用于儀器儀表、電工、電子產(chǎn)品、家用電器、汽摩配件、化工涂料、產(chǎn)品及其他相關(guān)產(chǎn)品零部件在高溫、低溫、濕熱的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性。高低溫老化箱主要用于對產(chǎn)品按照國家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在高溫、低溫、濕熱、條件下對產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便于產(chǎn)品設(shè)計、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗用。
